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產(chǎn)品中心電池隔膜電弱點(diǎn)測試儀650-薄膜電弱點(diǎn)測試儀
電弱點(diǎn)測定儀-本儀器方式為微機(jī)控制，卷膜移動速度可設(shè)定，按照設(shè)定的升壓速率升壓，達(dá)到設(shè)定的電壓后，實(shí)時(shí)記錄當(dāng)前的電壓值和電流值，并能夠?qū)崟r(shí)記錄當(dāng)前的擊穿點(diǎn)，試驗(yàn)結(jié)束后自動歸零，自動統(tǒng)計(jì)電弱點(diǎn)數(shù)、電弱線數(shù)，自動計(jì)算每平方米的電弱點(diǎn)數(shù)。
更新時(shí)間：2024-08-19
產(chǎn)品型號：ZKDRD-650
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電弱點(diǎn)測試儀-本儀器方式為微機(jī)控制，卷膜移動速度可設(shè)定，按照設(shè)定的升壓速率升壓，達(dá)到設(shè)定的電壓后，實(shí)時(shí)記錄當(dāng)前的電壓值和電流值，并能夠?qū)崟r(shí)記錄當(dāng)前的擊穿點(diǎn)，試驗(yàn)結(jié)束后自動歸零，自動統(tǒng)計(jì)電弱點(diǎn)數(shù)、電弱線數(shù)，自動計(jì)算每平方米的電弱點(diǎn)數(shù)。
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